多測試系統SHIBASOKU芝測WL15VWI高耐壓洩漏測試
民(mín)用設備,音(yīn)響,運算(suàn)放(fàng)大器(qì)DC - DC,
電池管理(lǐ)IC等
SCV系列,多樣的顧客的需求的構成,提供高性能(néng)緊湊的模拟IC測試系統。
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WL15VWI
四個同時測定GBT, MOSFET, SBD, FRD, IPM, IPD, Chip
2000 V / 30 A
四個同時測量方法例
+ 2000 V±20毫安
±128 V±5 A
±60 V±30 A
±64 V±160毫安
zui大32個同時測量可能(néng)
高真空度而言,高溫低(dī)溫開始到業界zui高水平,5 kv高耐壓洩漏試驗。
次世代ー半導體材料的SiC /氮化(huà)镓也(yě)對應
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