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IKEIDARIKA池田理(lǐ)化(huà)正電子(zǐ)光譜TypeL-II-AS

簡要描述：

IKEIDARIKA池田理(lǐ)化(huà)正電子(zǐ)光譜TypeL-II-AS
PSA TypeL-II ,TypeL-II-AS,PSA TypeL-P

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IKEIDARIKA池田理(lǐ)化(huà)正電子(zǐ)光譜TypeL-II-AS

IKEIDARIKA池田理(lǐ)化(huà)正電子(zǐ)光譜TypeL-II-AS

PSA TypeL-II ,TypeL-II-AS,PSA TypeL-P

正電子(zǐ)壽命光譜是一(yī)種非破壞性和高度靈敏的方法，用于評估原子(zǐ)級缺陷、分(fēn)子(zǐ)間空隙和空位結構。L-II型是可以高精度測量小型試件的機型，主要面向研究開發現場使用。與用于現場測量的LP型相比，它在測量精度和測量效率方面具有優勢。L-II-AS型是在L-II型上(shàng)安裝了(le)進樣器(qì)機構的型号。連續測量固定形狀的樣品時，無需更換樣品即可高效獲取數據。

正電子(zǐ)壽命測定法是評價空位型晶格缺陷、分(fēn)子(zǐ)間空隙等微小空隙的非破壞性、高靈敏度的方法。這些(xiē)微孔的測量實例有很多，作(zuò)爲材料劣化(huà)行爲的有用評價指标，無論它們是金(jīn)屬還是聚合物。

該設備PSA TypeL-P主要針對現場測量，具有比标準型号(PSA TypeL-II)更小、更輕的專門結構。此外，利用新(xīn)技術"反符合系統"，可以進行現場測量，甚至可以對大型結構進行非破壞性測量。

特征:

可以進行亞納米級的微孔評價(測量對象:金(jīn)屬、聚合物等)。

無損測量。

可用手機電池供電。

緊湊輕巧的結構(單手即可攜帶)。

 



 


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