IKEIDARIKA池田理(lǐ)化(huà)膜厚儀OPTM-A1

IKEIDARIKA池田理(lǐ)化(huà)膜厚儀OPTM-A1

IKEIDARIKA池田理(lǐ)化(huà)膜厚儀OPTM-A1

OPTM-A1,Opt-scope,Auto SE,VS1800,Smartproof 5

顯微分(fēn)光膜厚儀OPTM系列特征:

薄膜厚度測量所需的功能(néng)集成在測量頭中。

使用顯微光譜法進行高精度絕對反射率測量。

每1秒(miǎo)以内的高速測量。

實現顯微鏡下(xià)寬測量波長範圍的光學系統。

區域傳感器(qì)安全機制。

一(yī)個簡單的分(fēn)析向導，即使是初次使用的用戶也(yě)可以進行光學常數分(fēn)析。

配備可自定義測量順序的宏功能(néng)。

支持各種自定義。

Opt-scope是一(yī)種白光幹涉顯微鏡(非接觸式三維表面粗糙度/形狀測量儀),能(néng)夠在所有鏡頭放(fàng)大倍率下(xià)以0.01nm的高分(fēn)辨率進行高速測量。從窄範圍内的精細粗糙度測量到寬範圍内的起伏形狀測量,可以在廣泛的測量條件下(xià)進行亞納米級表面紋理(lǐ)測量。帶有可選電動XY載物台的拼接功能(néng)可實現更寬範圍的測量。

自動薄膜測量裝置Auto SE特征:

非接觸式無損測量,不會損壞樣品；

可在1nm至15μm範圍内評估膜厚；

還可以評估材料的光學常數(折射率 n、消光系數k)；

也(yě)可以評估單層和多層結構；

支持小至100μm見方的微小區域的測量；

标配電動XYZ載物台,支持面内分(fēn)布測量；

實現樣品表面狀況和測量位置的可視化(huà)。

線掃描膜厚測試儀TI系列特征:

采用線掃描方式實現無"遺漏"的全面薄膜檢測

膜厚測量範圍:0.7～300μm；

10ms獲取500mm寬度1mm間隔數據；

作(zuò)爲薄膜厚度測量專業制造商(shāng)的全面支持；

可進行高速高精度測量；

使用抗抖動的光學系統；

可處理(lǐ)寬樣品(可測量TD方向最長10m)；

硬件和軟件的原創設計。

VS1800納米三維光學幹涉測量系統利用光幹涉現象測量微小的表面輪廓，實現高性能(néng)薄膜、半導體、汽車零部件和顯示器(qì)行業所需的高精度測量。此外，還可以非破壞性地測量多層薄膜的層結構和層内的異物。

工業廣角共聚焦顯微鏡Smartproof 5通過采用圓盤共聚焦技術，與傳統激光顯微鏡相比，它在保持高分(fēn)辨率的同時實現了(le)壓倒性的高速成像。高清4兆像素攝像頭以50fps的高速平面内掃描捕獲2048x2048像素。