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正品直銷hitachi日立FIB-SEM三束系統顯微鏡/望遠鏡

簡要描述：

正品直銷hitachi日立FIB-SEM三束系統
通過自動重複使用FIB制備截面和進行SEM觀察，采集一(yī)系列連續截面圖像，并重構特定微區的三維結構

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深圳市(shì)井澤貿易有限公司

胡經理(lǐ)

正品直銷hitachi日立FIB-SEM三束系統

NX2000 NX9000

追求理(lǐ)想的三維結構分(fēn)析

通過自動重複使用FIB制備截面和進行SEM觀察，采集一(yī)系列連續截面圖像，并重構特定微區的三維結構。
采用理(lǐ)想的鏡筒布局，從先進材料、先進設備到生(shēng)物組織——在寬廣的領域範圍内實現傳統機型難以企及的高精度三維結構分(fēn)析。

SEM鏡筒與FIB鏡筒互成直角，形成三維結構分(fēn)析理(lǐ)想的鏡筒布局
融合高亮度冷場發射電子(zǐ)槍與高靈敏度檢測系統，從磁性材料到生(shēng)物組織——支持分(fēn)析各種樣品
通過選配口碑良好(hǎo)(hǎo)的Micro-sampling®系統*和Triple Beam®系統*，可支持制作(zuò)高品質TEM及原子(zǐ)探針樣品

項目		内容
SEM	電子(zǐ)源	冷場場發射型
	加速電壓	0.1 ～ 30 kV
	分(fēn)辨率	2.1 nm@1 kV
	分(fēn)辨率	1.6 nm@15 kV
FIB	離子(zǐ)源	镓
	加速電壓	0.5 ～ 30 kV
	分(fēn)辨率	4.0 nm@30 kV
	大束流	100 nA
标準探測器(qì)		In-colum二次電子(zǐ)探測器(qì)/In-colum背散射電子(zǐ)探測器(qì)/ 樣品室二次電子(zǐ)探測器(qì)
樣品台	X	0 ～ 20 mm *2
	Y	0 ～ 20 mm *2
	Z	0 ～ 20 mm *2
	θ	0 ～ 360° *2
	τ	-25 ～ 45° *2
大樣品尺寸		正方形邊長6 mm × 厚度2 mm